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射频导纳波物位计

描述:射频导纳波物位计的射频导纳物位控制技术是一种从电容式物位控制技术发展起来的,防挂料(传感器粘附之物料称为挂料)性能更好、工作更可靠、测量更准确。

更新时间:2021-09-03
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概述:

射频导纳波物位计的射频导纳物位控制技术是一种从电容式物位控制技术发展起来的,防挂料(传感器粘附之物料称为挂料)性能更好、工作更可靠、测量更准确、适用性更广的物位控制技术,“射频导纳"中“导纳"的含义为电学中阻抗的倒数,它由阻性成份、容性成份、感性成份综合而成,而“射频"即高频,所以射频导纳技术可以理解为用高频电流测量导纳的方法。


射频导纳是一种从电容式发展起来的、防挂料、更可靠、更准确、适用性更广的新型物位控制技术,是电容式物位技术的升级。所谓射频导纳,导纳的含义为电学中阻抗的倒数,它由电阻性成分、电容性成分、感性成分综合而成,而射频即高频无线电波谱,所以射频导纳可以理解为用高频无线电波测量导纳。仪表工作时,仪表的传感器与灌壁及被测介质形成导纳值,物位变化时,导纳值相应变化,电路单元将测量导纳值转换成物位信号输出,实现物位测量。

SAIPU-RD9000 系列传感器是120G调频雷达式物位测量仪表,测量距离可达150米。天线被进一步优化处理,新型快速的微处理器可以进行更高速率的信号分析处理,使得仪表可以用于高温高压等环境固体的测量。

<strong><strong><strong>射频导纳波物位计</strong></strong></strong>1.png



射频导纳波物位计原理:

调频连续波雷达物位计的通用原理为雷达在罐顶发射电磁波,电磁波碰到介质反射后被雷达接收,接收信号与发射信号之间的频率差 δ f 与介质表面的距离 R 成一定比例关系: R= C (速度) *δ f (频率差) /2/ K ( 调频斜率)。因为光速 C和调频斜率 K 已知,因此估算出频率差 δ f , 便可得到雷达安装位置料面的距离 R ,再通过已知的罐体总高,减去雷达到料面的空间距离(简称空高),得出料位的高度。

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特点:

1、毫米波雷达,测量精度最高可达±2mm,测量最小盲区为0.05m。

2、更小的天线尺寸,满足了更多的工况场合测量。

3、多种透镜天线,更小的发射角,更集中的能量,回波信号更强,同等工矿条件下,相比于其他雷达产品具有更高的可靠性。

4、拥有更强的穿透性,在有粘附及凝结的情况下也可以正常使用。

5、动态信号范围更大,对于低介电常数介质的测量更加稳定。

6、多种测量模式,快速测量模式下雷达反应时间小于1S。






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